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15270896115用于低磁導率材料加工后的微觀結構檢測技術
檢查低磁導率材料加工后的微觀結構變化。
(1) 可以在短時間內(nèi)準確測量低磁導率的材料。
(2) 材料質(zhì)量控制可以很容易地進行。
(3) 可以進行混合不同材料的試驗。
| 測量范圍 | 1.001-4 | ||
| 測量范圍 | 1.03·1.1·1.3·2.0·4.0（5個范圍） | ||
| 準確性 | ± 3% 范圍 | ||
| 校準方法 | 附標準試片 | ||
| 輸出 | DC 1V / FS（但是，當設置范圍 1 時） | ||
| 電源 | AC100V ± 10% 50 / 60Hz 約 50VA | ||
| 外形尺寸（mm）/質(zhì)量 | 260W x 162H x 310D（包括突起）約4kg | ||
